HITの主要性能
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2台の加速器を用いて、バン・デ・グラーフからの軽イオン (H+ or He+)とタ
ンデトロンからの重イオンを同時に試料に照射することができる(同時照射実験
)。下図1参照
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高周波ビームスキャナーにより大電流イオンビームを広い領域にわたって均一
に発生させることができる(BL3, BL4 and BL5)。下図2参照
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BL1ではイオンビームのパルス照射が可能で、パルス幅は〜1ns、周波数は1 〜500kHzで可変である。下図3参照
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p-Liやd-dなどの核反応により中性子発生室にて単色中性子を発生させること ができる(BL2)。
- バンデグラフ加速器に微粒子加速装置を設置し、1ミクロン程度の微粒子の加速ができる。
- イオンビーム照射下での陽電子ビームドップラー測定ができる。下図4参照
図1 同時照射用ビームライン
図2 試料位置におけるビーム強度分布
図3 2.8MeVパルス陽子ビームの波形
図4 イオンビーム照射下陽電子ビーム測定装置
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